深圳高低溫箱 高低溫交變實(shí)驗(yàn)箱能夠長(zhǎng)期使用型號(hào)規(guī)格參數(shù)如下:

型號(hào)AP-GD-80 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 400×500×400㎜   外箱尺寸：970×1360×970㎜

型號(hào)AP-GD-150  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×600×500 ㎜   外箱尺寸：1070×1460×1070㎜

型號(hào)AP-GD-225  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×750×600 ㎜   外箱尺寸：1070×1610×1170㎜

型號(hào)AP-GD-408  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 600×850×800 ㎜   外箱尺寸：1170×1710×1270㎜

型號(hào)AP-GD-800  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800 ㎜ 外箱尺寸：1550×1840×1290㎜

型號(hào)AP-GD-1000 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000㎜ 外箱尺寸：1550×1840×1470 ㎜

溫度范圍： －70℃～+150℃(可只選擇-40℃～+150℃；-20℃～+150℃；0℃～+150℃；)  

溫度波動(dòng)度：±0.5℃

溫度解析精度：0.01℃

溫度控制精度：±0.2℃

升溫/降溫時(shí)間：3.0℃/分鐘；1.0℃/分鐘(此升降溫速率是根據(jù)**標(biāo)準(zhǔn)要求的，要定制快速升降溫的顧客請(qǐng)下單時(shí)跟愛(ài)佩業(yè)務(wù)員說(shuō)明，謝謝）

電源：3φ5 380V AC±10%  50/60HZ或1φ3 220V AC±10%  50/60HZ（根據(jù)功率大小而配置）

深圳高低溫箱 高低溫交變實(shí)驗(yàn)箱能夠長(zhǎng)期使用的編程方式有兩種，一種是可程式，另一個(gè)種是定值式，那么可程式的**常被稱(chēng)為可程式高低溫實(shí)驗(yàn)箱。可程式是指可編程式，按照溫度變送器的運(yùn)作流程，人工編制試驗(yàn)條件程序，輸入芯片中。 芯片按照程序，以極短的時(shí)間掃描各個(gè)端口的狀態(tài)，并按照程序?qū)⒔Y(jié)果輸出到另外一些端口。 而設(shè)備通過(guò)控制器指令自動(dòng)完成顧客設(shè)定的程式內(nèi)容要求。愛(ài)佩公司生產(chǎn)的可程式高低溫實(shí)驗(yàn)箱采用智能型可程式溫度控制器，以液晶觸摸屏方式顯示溫度值，有加熱器、傳感器故障指示、變送功能、帶有RS/232或RS/485通訊接口可供遠(yuǎn)程監(jiān)控，顧客可通過(guò)觸屏編程自行設(shè)定系統(tǒng)參數(shù)。采用高精度的濕敏電阻為傳感器，對(duì)設(shè)備的溫度和濕度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控并通過(guò)負(fù)載進(jìn)行有效的控制。該儀表集測(cè)量、顯示、控制及通訊于一體，精度高、測(cè)量范圍寬，是一種適合于各個(gè)行業(yè)和領(lǐng)域的溫度測(cè)量控制儀表。

可程式控制器的主要功能：

1、5.7寸彩色液晶觸摸顯示屏，中英文操作畫(huà)面任意選擇，觸控式屏幕面板，操作簡(jiǎn)單，美觀大方，程序編輯容易。

2**大具有120組可編定的程序容量，每組可記憶100段溫度自行操作。

3、具有多項(xiàng)擴(kuò)充功能，控制器可經(jīng)由RS/232或RS/485接口與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)，也可定制USB導(dǎo)出數(shù)據(jù)，可連接打印機(jī)打印高低溫度曲線(xiàn)監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)。

4、可顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、實(shí)時(shí)顯示執(zhí)行及設(shè)定程序曲線(xiàn)。

5、故障報(bào)警，并顯示排除故障的方法。

6、采用先進(jìn)的專(zhuān)用微處理器芯片，可靠性高，抗干擾能力強(qiáng)。

深圳高低溫箱 高低溫交變實(shí)驗(yàn)箱能夠長(zhǎng)期使用執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；

GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法；

GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；

GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；。

MIL-STD810D方法502.2 美國(guó)**標(biāo)準(zhǔn)；

IEC 68-2-1-1990 中文名稱(chēng): 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.第2部分:**節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)

EC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化