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半導(dǎo)體電學(xué)參數(shù)測試設(shè)備iv+cv曲線掃描儀-【源頭廠家 誠信經(jīng)營】

產(chǎn) 品 價 格: 面議

聯(lián) 系 方 式: 陶女士      點擊查看聯(lián)系方式

公司名稱:
武漢普賽斯儀表有限公司
供應(yīng)總量:
0 件
最小起訂:
1 件
品牌名稱:
普賽斯儀表
廠家區(qū)域:
湖北武漢市
發(fā)貨期限:
自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
經(jīng)營范圍:
儀器儀表、電子產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售;電子技術(shù)服務(wù);軟件開發(fā)及技術(shù)服務(wù);貨物進(jìn)出口、技術(shù)進(jìn)出口、代理進(jìn)出口(不含國家禁止或限制進(jìn)出口的貨物及技術(shù))。(涉及許可經(jīng)營項目,應(yīng)取得相關(guān)部門許可后方可經(jīng)營)
公司地址:
武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)光谷三路777號—6號保稅物流園2號樓4樓
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武漢普賽斯儀表有限公司

聯(lián) 系 人 :陶女士    查看聯(lián)系方式

所在地區(qū):湖北 武漢市

身份認(rèn)證:          

咨詢《半導(dǎo)體電學(xué)參數(shù)測試設(shè)備iv+cv曲線掃描儀》低價

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產(chǎn)品詳情

半導(dǎo)體電學(xué)參數(shù)測試設(shè)備iv+cv曲線掃描儀概述

SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿材料研究、半導(dǎo)體芯片器件設(shè)計以及先進(jìn)工藝的開發(fā),具有桌越的測量效率與可靠性。

基于模塊化的體系結(jié)構(gòu)設(shè)計,SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以幫助用戶根據(jù)測試需要,靈活選配測量單元進(jìn)行升級。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量,同時檢測10kHz至1MHz范圍內(nèi)的多頻AC電容測量。SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀搭載普賽斯自主開發(fā)的專用半導(dǎo)體參數(shù)測試軟件,支持交互式手動操作或結(jié)合探針臺的自動操作,能夠從測量設(shè)置、執(zhí)行、結(jié)果分析到數(shù)據(jù)管理的整個過程,實現(xiàn)高效和可重復(fù)的器件表征;也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用,滿足高低溫測試需求。詳詢一八一四零六六三四七六;

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產(chǎn)品特點:

30μV-1200V;1pA-100A寬量程測試能力;

測量精度高,全量程下可達(dá)0.03%精度;

內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測試程序,直接調(diào)用測試簡便;

自動實時參數(shù)提取,數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù);

在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線;
提供靈活的夾具定制方案,兼容性強;

免費提供上位機軟件及SCPI指令集;

典型應(yīng)用:

納米、柔性等材料特性分析;

二極管;

MOSFET、BJT、晶體管、IGBT;

第三代半導(dǎo)體材料/器件;

有機OFET器件;

LED、OLED、光電器件;

半導(dǎo)體電阻式等傳感器;

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管;

電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測量;

太陽能電池;

非易失性存儲設(shè)備;

失效分析;


系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格

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半導(dǎo)體電學(xué)參數(shù)測試設(shè)備iv+cv曲線掃描儀訂貨信息



模塊化構(gòu)成:

低壓直流I-V源測量單元

-精度0.1%或0.03%可選
-直流工作模式
-Z大電壓300V,Z大直流1A或3A可選
-最小電流分辨率10pA
-四象限工作區(qū)間
-支持二線,四線制測試模式
-支持GUARD保護


低壓脈沖I-V源測量單元

-精度0.1%或0.03%可選
-直流、脈沖工作模式
-Z大電壓300V,Z大直流1A或3A可選,Z大脈沖電流10A或30A可選
-最小電流分辨率1pA
-最小脈寬200μs
-四象限工作區(qū)間.
-支持二線,四線制測試模式
-支持GUARD保護


高壓I-V源測量單元
-精度0.1%    
-Z大電壓1200V,Z大直流100mA

-最小電流分辨率100pA
-一、三象限工作區(qū)間
-支持二線、四線制測試模式
-支持GUARD保護


高流I-V源測量單元

-精度0.1%
-直流、脈沖工作模式.
-Z大電壓100V,Z大直流30A,Z大脈沖電流100A
-最小電流分辨率10pA

-最小脈寬80μs
-四象限工作區(qū)間
支持二線、四線制測試模式
-支持GUARD保護


電壓電容C-V測量單元

-基本精度0.5%
-測試頻率10hZ~1MHz,可選配至10MHz
-支持高壓DC偏置,Z大偏置電壓1200V
-多功能AC性能測試,C-V、 C-f、 C-t


硬件指標(biāo)-IV測試

半導(dǎo)體材料以及器件的參數(shù)表征,往往包括電特性參數(shù)測試。絕大多數(shù)半導(dǎo)體材料以及器件的參數(shù)測試,都包括電流-電壓(I-V)測量。源測量單元(SMU),具有四象限,多量程,支持
四線測量等功能,可用于輸出與檢測高精度、微弱電信號,是半導(dǎo)體|-V特性測試的重要工具之-。SPA-6100配置有多種不同規(guī)格的SMU,如低壓直流SMU,低壓脈沖SMU,大電流SMU。用戶可根據(jù)測試需求靈活配置不同規(guī)格,以及不同數(shù)量的搭配,實現(xiàn)測試測試效率與開支的平衡。


靈活可定制化的夾具方案

    針對市面上不同封裝類型的半導(dǎo)體器件產(chǎn)品,普賽斯提供整套夾具解決方案。夾具具有低阻抗、安裝簡單、種類豐富等特點,可
用于二極管、三極管、場效應(yīng)晶體管、IGBT、SiC  MOS、GaN等單管,模組類產(chǎn)品的測試;也可與探針臺連接,實現(xiàn)晶圓級芯片
測試。

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探針臺連接示意圖

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免責(zé)聲明

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